梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205 分析天平提供出色的分析稱量性能，并提供至高稱量安全性、*稱量效率且易于合規(guī)。 梅特勒 XPE205 分析天平重復(fù)性誤差小，因此提供zui低的zui小稱量值。質(zhì)量管理特征，例如創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈和獲得的 StaticDetect 技術(shù)，可免除您在稱量方面的擔(dān)憂并獲得值得信賴的結(jié)果。憑借各種附件和多個(gè)連接選項(xiàng)，梅特勒 XPE205分析天平可滿足您日益增長(zhǎng)的需求。 您可在今后的許多年中實(shí)現(xiàn)豐富的稱量應(yīng)用。 瑞士設(shè)計(jì)與制造，出色的質(zhì)量值得您信賴。

梅特勒XPE205分析天平提供以下智能稱量功能：
• 包括狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏，具有警告功能
• 獲得的 StaticDetect 功能
• 新的靜電消除技術(shù)
• TestManager™ 用于輕松的日常測(cè)試
• 性能更出色的網(wǎng)格秤盤
• LabX® 軟件用于當(dāng)前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE205分析天平技術(shù)規(guī)格
處理能力zui高為 520g，可讀性為 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精確到 14 mg
無需觸摸操作
稱量，去皮，自動(dòng)開關(guān)門 – 減少污染
無縫過程
RFID 選項(xiàng)；LabX：自動(dòng)數(shù)據(jù)處理，SOP 指南
*的清潔流程
快速拆除稱量室，可在洗碗機(jī)中安全清洗
天平管理應(yīng)用程序
StatusLight™：天平水平，測(cè)試已完成，可隨時(shí)稱量
靜電解決方案
自動(dòng)靜電檢測(cè)，緊湊式離子發(fā)生器XP504DR 分析天平

梅特勒 XPE205 分析天平 技術(shù)參數(shù)